SCS Ionograph BT SP型離子污染動(dòng)態(tài)測(cè)試儀

Ionograph BT SP是Ionograph BT Series 離子污染測(cè)試系統(tǒng)三款桌上型中小測(cè)試槽（15.2 x 15.2 x 2.9 cm）的一款離子污染測(cè)試儀。配有定制籃可用于單個(gè)產(chǎn)品或極小產(chǎn)品的離子污染度測(cè)試。

離子污染：

離子污染的存在會(huì)對(duì)使用電子電路的設(shè)備的性能和使用壽命產(chǎn)業(yè)不利的影響。殘留的離子污染會(huì)導(dǎo)致絕緣表面的腐蝕和電流泄露。當(dāng)在正常環(huán)境中暴露于濕度時(shí)，電路和組件劣化的速度顯著增加。

離子殘留物來(lái)自化學(xué)加工和電子制造過(guò)程中的各種來(lái)源。 典型污染源包括：

金屬清潔劑

化學(xué)蝕刻劑

電鍍化學(xué)品

助焊劑

加工設(shè)備

清洗線(xiàn)

環(huán)境（灰塵、二氧化碳）

汗液

特別是微電子污染，即使是人類(lèi)噴嚏中的痕量離子殘留物也會(huì)導(dǎo)致災(zāi)難性失敗。所以消除電子電路和組件上的離子殘留量可以使產(chǎn)品達(dá)到預(yù)期的性能和降低產(chǎn)品的可靠性風(fēng)險(xiǎn)?，F(xiàn)在已經(jīng)有很多關(guān)于離子污染的工業(yè)規(guī)范盒軍事規(guī)范被廣泛用于產(chǎn)品生產(chǎn)的質(zhì)量控制。

Ionograph BT Series 離子污染測(cè)試系統(tǒng)可以簡(jiǎn)單，準(zhǔn)確的測(cè)量殘留的離子。對(duì)于裸板、組裝板、無(wú)源元件和微電子部件的殘留離子進(jìn)行簡(jiǎn)單準(zhǔn)確的測(cè)量。適用于任何生產(chǎn)商或第三方檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室。

SCS Ionograph BT Series: SP (Small Parts)

測(cè)試槽尺寸(W x H x D)：15.2 x 15.2 x 2.9 厘米

測(cè)試液容量：1.5 升

尺寸(W x H x D)：27.9 x 52.7 x 38.1 厘米

重量：20.9千克

電源：230 伏交流電, 50 赫茲, 0.5 安培

上海益朗儀器有限公司銷(xiāo)售美國(guó)SCS離子污染測(cè)試儀及相關(guān)配件耗材：

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以上為新型號(hào)離子污染測(cè)試儀，關(guān)于老款型號(hào)的離子污染測(cè)試儀的維修及配件耗材需求請(qǐng)聯(lián)系上海益朗儀器有限公司。