FXBW-110/120復(fù)合絕緣子

 復(fù)合絕緣子的“在運行電壓和模擬氣候條件下的老化試驗”是國際大電網(wǎng)會議通過的，以IEC1109-91附錄C確定下來的國際通用性試驗項目，近年來對該試驗經(jīng)各國研究部門和試驗單位長期研究和摸索認(rèn)為，通過5000h試驗而外絕緣沒有嚴(yán)重?fù)p壞的復(fù)合絕緣子產(chǎn)品，其外絕緣在產(chǎn)品相當(dāng)長運行時間內(nèi)仍維持良好的性能。日本研究部門對5000h試驗過的復(fù)合絕緣子與實際運行加以對比，推算出復(fù)合絕緣子外絕緣運行壽命相當(dāng)25年以上。 　　3.2耐漏電起痕和電蝕損試驗是模擬復(fù)合絕緣子外絕緣表面泄漏電流的加速老化試驗。對其外絕緣材料延續(xù)使用較為嚴(yán)酷的，檢驗暴露污穢環(huán)境下絕緣材料漏電時損壞絕緣表面程度的耐漏電起痕試驗，已成為復(fù)合絕緣子外絕緣材料耐電蝕老化的有效方法。經(jīng)試驗機理分析可以認(rèn)為，通過該試驗，復(fù)合絕緣子外絕緣就能夠在較長運行過程中不至被表面泄漏電流所損壞。對產(chǎn)品的外絕緣所進行的鹽霧法試驗，是按著產(chǎn)品實際絕緣結(jié)構(gòu)尺寸和實際運行方式，以鹽霧污染形式對其進行1000h試驗。該試驗是隨著復(fù)合絕緣子的出現(xiàn)而確定的試驗項目，是最接近復(fù)合絕緣子產(chǎn)品運行實際情況所進行的電氣老化試驗。凡是通過1000h鹽霧法電老化試驗的外絕緣沒有明顯電蝕痕跡的復(fù)合絕緣子產(chǎn)品，在任何自然環(huán)境條件長期運行，都可以保證其外絕緣耐電蝕的穩(wěn)定性。