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渦流測厚儀|氧化膜測厚儀TT230

渦流測厚儀|氧化膜測厚儀TT230
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產(chǎn)品詳細說明

本儀器是一種超小型測量儀,它能快速、無損傷、精密地進行非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量。可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。由于該儀器體積小、測頭與儀器一體化,特別適用于工程現(xiàn)場測量。
本儀器符合以下標準:
GB/T 4957
1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量 渦流方法
JB/T 8393
1996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀
JJG 818
93 《電渦流式測厚儀》

技術(shù)參數(shù):

測頭類型

N

測量原理

電渦流

測量范圍

0-1250um/0-40um(銅上鍍鉻)

低限分辨力

1μm(10um以下為0.1um)

探頭連接方式

一體化

示值誤差

一點校準(um)

±[3%H+1.5]

兩點校準(um)

±[1%~3%H+1.5]

測量條件

最小曲率半徑(mm)

3 10

基體最小面積的直徑(mm)

ф5

最小臨界厚度(mm)

0.3

溫濕度

0~40
20%RH
90%RH

統(tǒng)計功能

平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、
測試次數(shù)(NO.)、標準偏差(SDEV

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